搜索
您的当前位置:首页正文

在半导体晶片上均匀生长薄膜的生长系统及其工艺

来源:尚佳旅游分享网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN99103598.4 (22)申请日 1999.04.05 (71)申请人 日本电气株式会社

地址 日本东京

(10)申请公布号 CN1231502A (43)申请公布日 1999.10.13

(72)发明人 田原庆一朗

(74)专利代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司

代理人 穆德骏

(51)Int.CI

H01L21/205; C23C16/44; C23C16/54;

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

在半导体晶片上均匀生长薄膜的生长系统及其工艺

(57)摘要

大气压条件下的化学汽相淀积系统,包括

平行延伸用于以间隔传送半导体晶片(15a/15b)的多个网状传送带(12a-12g),位于所述多个网状传送带(12a-12g)上用于加热传送带上的反应区的反应气体注入器(13b),和用于移动多个传送带的驱动机构(12h),其特征在于驱动机构(12h)以不同

的速度移动传送带(12a-12g),以便使每个半导体晶片(15a/15b)在反应区中产生旋转(R),由此均匀地将半导体晶片整个表面暴露于反应气体,这在反应区中产生不同的淀积条件。

法律状态

法律状态公告日

1999-09-15 1999-10-13 2003-07-23

法律状态信息

实质审查请求的生效

公开

发明专利申请公布后的视为撤回

法律状态

实质审查请求的生效 公开

发明专利申请公布后的视为撤回

权利要求说明书

在半导体晶片上均匀生长薄膜的生长系统及其工艺的权利要求说明书内容是....请下载后查看

说明书

在半导体晶片上均匀生长薄膜的生长系统及其工艺的说明书内容是....请下载后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Top