用于测量被聚焦的激光束的测量装置[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：用于测量被聚焦的激光束的测量装置专利类型：发明专利

发明人：贝恩德·热尔特,奥拉夫·基特尔曼申请号：CN200880106717.7申请日：20080912公开号：CN101821595A公开日：20100901

摘要：根据典型实施方式，用于测量激光束的测量装置包括放大透镜系统，其具有在激光束的光束路径中接连布置并且焦点重合的总共两个透镜(10，12)的，以及像机(74)，其布置在两个透镜(10，12)之后在最后透镜(12)的焦点中并且包括从被放大的激光束产生电子图像的电子图像传感器。透镜(10，12)与摄像机(74)一起可沿着光束路径相对测量装置的参照点(46)调整，以便能以此方式找到激光束的光束腰部和确定激光束的直径分布。测量装置还包括适配器(42)，其围绕光束路径用于耦接测量装置到提供激光束的激光系统。在这种情况中，适配器(42)形成用于激光系统的停止面(46)，该停止面基于激光束的光束轴线(16)轴向地定向，并允许测量装置被原地耦接到激光系统的安装场所。

申请人：波光股份有限公司

地址：德国埃尔兰根

国籍：DE

代理机构：中科专利商标代理有限责任公司

代理人：王新华

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