专利名称：用于芯片测试的温控装置专利类型：实用新型专利发明人：葛金发
申请号：CN201220536042.3申请日：20121018公开号：CN202904406U公开日：20130424
摘要：本实用新型公开一种用于芯片测试的温控装置，该温控装置用于芯片测试插座，包括一包覆良性热传导体的加热器及一外部温控器，该外部温控器可对该加热器进行温度控制，该加热器覆盖于测试芯片上。
申请人：宜硕科技(上海)有限公司
地址：201103 上海市闵行区宜山路1618号综合楼1楼
国籍：CN
代理机构：上海唯源专利代理有限公司
代理人：曾耀先
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